多层电镀层厚度测量仪DX-320L应用范围:
电镀层厚度测量:在工业中常要对一些镀层(电镀、真空镀等)进行厚度分析,例如:PCB板、五金端子、线材、电子产品、汽车、饰品等行业。
金属元素分析:对于珠宝首饰行业用于分析贵金属(金、铂、钯、铑、银等)的纯度,XRF无疑是首选仪器,精度不错、价格也不算太昂贵。XRF进行元素和化合物分析应用十分广泛,钢铁、有色金属、橡胶、石油化工、玻璃、水泥、废旧原料回收、地质矿产、考古文物……等行业都用其进行成分和微量元素分析。
多层电镀层厚度测量仪DX-320L技术指标
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型号: |
DX-320L |
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测试对像: |
粉未、固体、液体 |
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元素分析范围: |
钠(Na)-铀(U) |
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同时最多可测元素: |
36种 |
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含量分析范围: |
1ppm~99.99% |
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工作稳定性: |
总荧光强度为0.1% |
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测试时间: |
60~200秒 |
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探测器分辨率: |
127eV±5 |
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多道分析器: |
2048道 |
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X射线光管: |
功率50W,靶材可选Ag、Rh、W、Mo |
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高压电源: |
电压范围0~50KV,稳定度每小时小于0.05% |
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外型尺寸: |
660mm×480mm×330mm |
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测量仓: |
440mm×350mm×150mm |
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重量: |
62Kg |
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最低检出限: |
Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
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镀层技术参数: |
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可测镀层数: |
最多可达5层 |
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镀层种类: |
单金属镀层、合金镀层 |
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镀层识别精度: |
分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。 |
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厚度测试范围: |
轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um 中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um 重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um |
标准配置
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配置 |
数量 |
单位 |
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仪器主机部分主要配置 |
1 |
套 |
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1. 高分辨率Si-PIN电制冷半导体探测器 |
1 |
套 |
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2.低功率X光管 |
1 |
个 |
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3. 高压电源 |
1 |
个 |
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4. 2048道数字多道分析器 |
1 |
套 |
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5. 高精密CCD |
1 |
个 |
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6. 滤光片组 |
5 |
组 |
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7. 准直器:直径为0.2 , 0.5 , 1 , 2 , 6 , 8mm的准直器各一个 |
6 |
个 |
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仪器外围配置 |
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计算机: 品牌电脑一台,配19寸液晶 |
1 |
台 |
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2. HP彩色喷墨打印机 |
1 |
台 |
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3. 银校正片 |
1 |
片 |
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4. 塑料标准样品: EC681K |
1 |
袋 |
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5. 样品杯、麦拉膜 |
若干 |
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软件配置 |
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RoHS/无卤检测专用软件 |
1 |
套 |




通过认证 

