X射线镀层测厚仪

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公司基本资料信息

详细说明

X射线镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。

X射线镀层测厚仪的详细介绍

镀层测厚仪应用主要分为：

1)、镀层测厚分析：电镀、电子器件、珠宝首饰等行业

2)、贵金属分析：珠宝首饰

3)、元素和化合物分析（特定元素分析、全元素分析）：钢铁、有色金属、

橡胶、石油化工、玻璃、水泥、废旧原料回收、地质矿产、考古文物等行业，实验室、高校科研等单位

4)、在线分析（元素分析、测厚分析）：矿产、冶金、水泥、钢铁等行业

5)、表面微区分析：材料、电镀等行业

镀层测厚仪产品特点：

1.操作界面简单，测量方便，快捷

2.无损检测，在无标准样品时亦可准确分析

3.采用127±5eV的高精度分辨率，保证数据测量的精度。

4.能够检测卤族元素的精确含量

5.同置高清晰摄像头，可帮助客户判断测量的部位

6.电制冷型的X光管配合光管保养程序，散热更好，并能有效的延长X光管的寿命

7.外观高贵大方，加大仪器内部空间，仪器内部通风性优，并有效屏蔽电磁干扰

8.采用独特双峰位快速自动校准。

9.自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成

10.国际领先的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等

11.客户可根据自已的要求进行二次开发，自行开发任意多个分析方法

12.设置了自动安全防护开关，以确保用户安全使用。

镀层测厚仪技术指标

技术指标

型号：	DX-DP6300
测试对像：	粉未、固体、液体
元素分析范围：	钠（Na）－铀（U）
同时最多可测元素：	36种
含量分析范围：	1ppm～99.99%
工作稳定性：	总荧光强度为0.1％
测试时间：	60～200秒
探测器分辨率：	127eV±5
进口高端DSP数字信号处理芯片	64位处理
多道分析器：	2048道
X射线光管：	功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo
高压电源：	电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%
外型尺寸：	720mm×520mm×360mm(不包括支脚)
测量仓：	590mm×400mm×120mm
重量：	60Kg
最低检出限：	Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
镀层技术参数：
可测镀层数：	最多可达5层
镀层种类：	单金属镀层、合金镀层
镀层识别精度：	最薄可测试0.005μm。
厚度测试范围：	轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

标准配置