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X射线荧光镀层厚度分析仪iEDX-150T

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品牌: 韩国ISP
仪器尺寸: 618*525*490mm
平台移动范围: 160*160*100mm
测试精度: 0.001um
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
所在地: 广东 广州市
有效期至: 2019-12-26 [已过期]
最后更新: 2020-06-04 17:17
浏览次数: 329
 
公司基本资料信息
详细说明
 一、产品概述
产品类型:能量色散X荧光光谱分析设备 
产品名称:镀层厚度测试仪
型    号:iEDX-150T
生 产 商:韩国ISP公司
亚太地区战略合作伙伴:广州鸿熙电子科技有限公司

                     镀层厚度测试仪  iEDX-150T 

工作条件

●工作温度:15-30℃

●电源:AC: 110/220VAC 50-60Hz

●相对湿度:<70%,无结露

●功率:150W + 550W

产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV,1mA

u过滤器:5过滤器自动转换

u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:618*525*490mm

u样品移动距离:160*150*90mm

1. X射线管:高稳定性X光光管,使用寿命(工作时间>18,000小时)

微焦点X射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。

2. 探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

3. 滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

7个准直器:客户可选准直器尺寸或定制特殊尺寸准直器。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

4. 平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量

5. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能

二、产品优势

1. 镀层检测,最多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。

2. 仪器尺寸:618*525*490mm,样品移动距离:160*150*90mm。

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件终身免费升级。

10. 无损检测,一次性购买标样可永久使用。

11. 使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供全方位保姆式服务。

12. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

13. 可进行RoHS检测(选配功能),应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

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